Menü überspringen

Den historiske udvikling af virksomheden og milepæle i produktudvikling

Virksomheden går tilbage til Wilhelm Heidenhain, grundlagt i 1889 i Berlin, metal-ætsning, skabeloner, skilte, stregdelinger og skalaer. Efter ødelæggelsen af selskabet under Anden Verdenskrig etablerede søn af firmaets grundlægger, virksomheden DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut. De første produkter blev igen stregdelinger såvel som skalaer for prisvisende instrumenter. Snart blev optiske positionsmåleudstyr for værktøjsmaskiner indført i programmet. I begyndelsen af ​​tresserne kom overgangen til fotoelektriske scanning for længde og vinkel måleinstrumenter. Denne udvikling førte til de første af mange maskiner og automationssystemer i fremstillingsindustrien.

Siden midten af ​​halvfjerdserne, er HEIDENHAIN blevet en stadig vigtigere producent af styringer og drevteknologi til værktøjsmaskiner.

Fra begyndelsen havde selskabet en stærk teknisk orientering. Dette, og for at sikre virksomhedens fremtidige udvikling, overdrog Dr. Johannes Heidenhain i 1970 sine aktier i firmaet til en almennyttig fond. Dette gør det i dag muligt for HEIDENHAIN, at lave store investeringer i forskning og udvikling

Historiske milepæle

1889

Grundlæggelse af W. HEIDENHAIN som et metal-ætseri i Berlin

1923

Dr. Johannes Heidenhain tiltræder sit fars firma

1948

Grundlæggelse af firmaet DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut.

1950

Opfindelsen af DIADUR-metoden: Fremstilling af modstandsdygtig præcisionsdeling på glas ved at kopierer en originaldeling

1970

Grundlæggelsen af den almennyttige DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTELSE GmbH

1980

Dr. Johannes Heidenhains død

2014

HEIDENHAIN er repræsenteret i alle industrialiserede lande

Måletekniske Projekter

1961

Fotoelektriske målemikroskoper

1966

Interferenzkomparator for Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB

1971

Vinkelmålebord og testudstyr til delingsperioer for PTB.

1977

Præcision-Goniometer for PTB

1989

Vinkelmåleudstyr til New Technology Telescope NTT

1999

Vinkelmåleudstyr til Very LargeTelescope VLT

1999

Målestave til den internationale NANO-3-længdemålesammenligning
mellem flere nationale Metrologi-Institutter

2001

Nanometer-Interferenskomporator for PTB

2003

Vinkel sammenligningsmåling mellem HEIDENHAIN, PTB og AIST (Japans nationale forskningsinstitut)

2004

Længdesammenlignings måling mellem HEIDENHAIN, PTB og MITUTOYO

2004

Vinkelmåleudstyr til GRANTECAN Teleskop (Gran Telescopio CANARIAS)

2005

Vinkelsammenlignings måling mellem HEIDENHAIN og PTB

2007

Vinkelmåleudstyr til de 25 europæiske ALMA Antennen (Atacama Large Telescope Array)

2013

Vinkelmåleudstyr til Daniel K. Inouye Solar Teleskop (DKIST, tidligere Advanced Technology Solar Telescope, ATST)

Milepæl for stregdeling

1936

Fotomekanisk kopierede glasmålestave med nøjagtighed ± 0,015 mm

1943

Kopieret cirkelskive med nøjagtighed ± 3 Sekunden

1952

Vægtskalaer bliver hovedintjeningen

1967

Selvsupporterende gitter og mikrostruktur

1985

Afstandkoderede referencemærke for inkrementale målestave

1986

Fasegitter-målestave

1995

Areal krydsgitter for 2-koordinat måleudstyr

2002

Planar fasegitterstruktur for interferentielle længdemåleudstyr

2005

Forureningstolerent amplitydegitter, fremstillet ved laserablation

2009

Store krydsgitter (400 mm x 400 mm) for målesystemer til halvlederindustrien

Milepæl for måleudstyr: Åbne Længdemåleudstyr

1952

Optiske længdemåleudstyr for værktøjsmaskiner

1961

Inkrementale længdemåleudstyr LID 1, delingsperiode 8 µm / Måleskridt 2 µm

1963

Koderet længdemåleudstyr LIC med 18 Spor, Dual-Code / Måleskrift 5 µm

1965

Laser-Interferometer for opmåling af værktøjsmaskiner

1987

Interferentielle åben længdemåleudstyr LIP 101, Måleskridt 0.02 µm

1989

Interferentielle åben længdemåleudstyr LIP 301, Måleskridt 1 nm

1992

To dimensionalt interferential længdemåleudstyr PP 109R

2008

Interferentielle længdemåleudstyr LIP 200 med Signalperiode 0,512 µm, for hastigheder op til 3 m/s

2010

Absolut åbne længdemåleudstyr LC 4000 med 2 Spor,
PRC, EnDat 2.2, for målelængde op til 27 m og måleskridt 1 nm

2012

Absolut etspor-længdemåleudstyr LIC 2100

2015

Interferentielle længdemåleudstyr LIP 6000 med meget kompakte byggemål

Milepæl for måleudstyr: Lukkede Længdemåleudstyr

1952

Optiske længdemåleudstyr for værktøjsmaskiner

1966

Kapslede inkrementale længdemåleudstyr LIDA 55.6 med stålmålebånd

1975

Inkrementale længdemåleudstyr LC 500 med glasmålestav, Målelængde 3 m, Måleskridt 10 µm

1977

Inkrementale længdemåleudstyr LC 300, Målelængde 30 m

1994

Absolut længdemåleudstyr LC 181 med 7 Spor, EnDat-Interface, Målelængde 3m, Måleskridt 0,1 µm

1996

Absolut længdemåleudstyr LC 481 med 2 Spor, PRC, EnDat, Målelængde op til 2 m

2011

Absolut længdemåleudstyr LC 200, Målelængde op til 28 m, , Måleskridt 10 nm

2014

Absolut længdemåleudstyr LC xx5, Målelængde op til 4 m, , Måleskridt 1 nm

2015

Inkremental længdemåleudstyr LP 100, Målelængde op til 3 m, , Måleskridt 32,5 nm

Milepæl for måleudstyr: Vinkelmåleudstyr

1952

Optisk vinkelmåleudstyr

1957/1961

Fotoelektriske vinkelmåleudstyr ROD 1 med 40.000 Signalperiode/U, 10.000 Streger

1962

ROD 1 med 72.000 Signalperiode/U

1964

Absolut vinkelmåleudstyrROC 15 / opløsning 17 Bit

1975

Inkremental vinkelmåleudstyr ROD 800, nøjagtighed ± 1 Sekund

1986

Inkremental vinkelmåleudstyr ROD 905, nøjagtighed ± 0.2 Sekund

1997

Absolut vinkelmåleudsyr med integrerede statorkobling i hul-akse udførelse RCN 723, 23 Bit Singleturn, EnDat-Interface, nøjagtighed ± 2 Sekunder

2000

Interferentiel vinkelmåleudstyr ERP 880 med 180.000 Signalperioder/U, nøjagtighed ±0.2 sekunder

2004

Absolut vinkelmåleudstyrROC 727 med hul-aksediameter til 100 mm

2009

Interferentielle vinkelmåleudstyr ROP 8080, for Waferprober, Kombination forspændte lejer og vinkelmåleudstyr, 360.000 Signalperioder/U

2011

Miniature interferentielle vinkelmåleudstyr ERP 1080 i Single-Chip-Encoder-Udførsel

Milepæl for måleudstyr: Drejegiver

1957/1961

Inkremental fotoelektrisk drejegiver ROD 1 med 10.000 Streger

1964

Inkremental standard-drejegiver i serien ROD 2 / ROD 4

1981

Inkremental drejegiver ROD 426, Industristandarden

1987

Absolut multiturn-drejegiver ROC 221 S, 12 Bit Singleturn, 9 Bit Multiturn

1992

Inkremental indbygnings-drejegiver ERN 1300 for Arbejdstemperatur op til 120 °C

1993

Absolut Singleturn og Multiturn Dregiver ECN 1300 og EQN 1300

2000

Miniature absolutte multiturn drejegiver EQN 1100 i Chip-On-Board teknik

2000

Absolut singelturn-drejegiver ECN 100 med hul-aksediameter til 50 mm

2004

Miniature Absolut Singleturn og Multiturn Dregiver ECI 1100 og EQI 1100 (med induktiv aftastning)

2007

Absolut drejegiver med “Functional Safety” SIL2/PL d  og EnDat 2.2-Interface

2012

ERN 1387 Inkremental aftastning med forbedret nøjagtighed ved nyudviklet aftast-ASIC

2014

Absolut drejegiver for anvendelse op til SIL3/PL e, EnDat 2.2-Interface og Fejludelukkelse

Milepæl for Styringer og Elektronik

1968

Frem-/og tilbagetæller VRZ 59.4 for 1 Akse

1974

Numerisk positionsvisning HEIDENHAIN 5041

1976

Numerisk positionsstyring TNC 110 og TNC 120 for 3 Akser

1979

Numerisk punkt-punkt styring TNC 131 / TNC 135

1981

Numerisk banestyring for 3 Akser TNC 145

1984

Numerisk banestyring for 4 Akser TNC 155 grafisk simulering af emnebearbejdning

1995

Synchron-serielle Interface EnDat for absolutte Positionsmåleudstyr

1996

Banestyring TNC 426 med digitale akseregulering or 5 Akser

1996

HEIDENHAIN kompakt TNC 410 MA med konverter og motorer

2004

Banestyring iTNC 530 med alternativ betjeningsart smarT.NC

2007

Banestyring TNC 620 med HSCI, den serielle Controller-Interface

2011

Banestyring TNC 640 for kombinerede fræse-dreje-bearbejdning