Virksomheden går tilbage til Wilhelm Heidenhain, grundlagt i 1889 i Berlin, metal-ætsning, skabeloner, skilte, stregdelinger og skalaer. Efter ødelæggelsen af selskabet under Anden Verdenskrig etablerede søn af firmaets grundlægger, virksomheden DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut. De første produkter blev igen stregdelinger såvel som skalaer for prisvisende instrumenter. Snart blev optiske positionsmåleudstyr for værktøjsmaskiner indført i programmet. I begyndelsen af tresserne kom overgangen til fotoelektriske scanning for længde og vinkel måleinstrumenter. Denne udvikling førte til de første af mange maskiner og automationssystemer i fremstillingsindustrien. Siden midten af halvfjerdserne, er HEIDENHAIN blevet en stadig vigtigere producent af styringer og drevteknologi til værktøjsmaskiner. Fra begyndelsen havde selskabet en stærk teknisk orientering. Dette, og for at sikre virksomhedens fremtidige udvikling, overdrog Dr. Johannes Heidenhain i 1970 sine aktier i firmaet til en almennyttig fond. Dette gør det i dag muligt for HEIDENHAIN, at lave store investeringer i forskning og udvikling
1889
Grundlæggelse af W. HEIDENHAIN som et metal-ætseri i Berlin
1923
Dr. Johannes Heidenhain tiltræder sit fars firma
1948
Grundlæggelse af firmaet DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut.
1950
Opfindelsen af DIADUR-metoden: Fremstilling af modstandsdygtig præcisionsdeling på glas ved at kopierer en originaldeling
1970
Grundlæggelsen af den almennyttige DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTELSE GmbH
1980
Dr. Johannes Heidenhains død
2014
HEIDENHAIN er repræsenteret i alle industrialiserede lande
Vinkelmåleudstyr til Daniel K. Inouye Solar Teleskop (DKIST, tidligere Advanced Technology Solar Telescope, ATST)
1936
Fotomekanisk kopierede glasmålestave med nøjagtighed ± 0,015 mm
1943
Kopieret cirkelskive med nøjagtighed ± 3 Sekunden
1952
Vægtskalaer bliver hovedintjeningen
1967
Selvsupporterende gitter og mikrostruktur
1985
Afstandkoderede referencemærke for inkrementale målestave
1986
Fasegitter-målestave
1995
Areal krydsgitter for 2-koordinat måleudstyr
2002
Planar fasegitterstruktur for interferentielle længdemåleudstyr
2005
Forureningstolerent amplitydegitter, fremstillet ved laserablation
2009
Store krydsgitter (400 mm x 400 mm) for målesystemer til halvlederindustrien
Optiske længdemåleudstyr for værktøjsmaskiner
1961
Inkrementale længdemåleudstyr LID 1, delingsperiode 8 µm / Måleskridt 2 µm
1963
Koderet længdemåleudstyr LIC med 18 Spor, Dual-Code / Måleskrift 5 µm
1965
Laser-Interferometer for opmåling af værktøjsmaskiner
1987
Interferentielle åben længdemåleudstyr LIP 101, Måleskridt 0.02 µm
1989
Interferentielle åben længdemåleudstyr LIP 301, Måleskridt 1 nm
1992
To dimensionalt interferential længdemåleudstyr PP 109R
2008
Interferentielle længdemåleudstyr LIP 200 med Signalperiode 0,512 µm, for hastigheder op til 3 m/s
2010
Absolut åbne længdemåleudstyr LC 4000 med 2 Spor, PRC, EnDat 2.2, for målelængde op til 27 m og måleskridt 1 nm
2012
Absolut etspor-længdemåleudstyr LIC 2100
1966
Kapslede inkrementale længdemåleudstyr LIDA 55.6 med stålmålebånd
1975
Inkrementale længdemåleudstyr LC 500 med glasmålestav, Målelængde 3 m, Måleskridt 10 µm
1977
Inkrementale længdemåleudstyr LC 300, Målelængde 30 m
1994
Absolut længdemåleudstyr LC 181 med 7 Spor, EnDat-Interface, Målelængde 3m, Måleskridt 0,1 µm
1996
Absolut længdemåleudstyr LC 481 med 2 Spor, PRC, EnDat, Målelængde op til 2 m
2011
Absolut længdemåleudstyr LC 200, Målelængde op til 28 m, , Måleskridt 10 nm
Absolut længdemåleudstyr LC xx5, Målelængde op til 4 m, , Måleskridt 1 nm
Optisk vinkelmåleudstyr
1957/1961
Fotoelektriske vinkelmåleudstyr ROD 1 med 40.000 Signalperiode/U, 10.000 Streger
1962
ROD 1 med 72.000 Signalperiode/U
1964
Absolut vinkelmåleudstyrROC 15 / opløsning 17 Bit
Inkremental vinkelmåleudstyr ROD 800, nøjagtighed ± 1 Sekund
Inkremental vinkelmåleudstyr ROD 905, nøjagtighed ± 0.2 Sekund
1997
Absolut vinkelmåleudsyr med integrerede statorkobling i hul-akse udførelse RCN 723, 23 Bit Singleturn, EnDat-Interface, nøjagtighed ± 2 Sekunder
2000
Interferentiel vinkelmåleudstyr ERP 880 med 180.000 Signalperioder/U, nøjagtighed ±0.2 sekunder
2004
Absolut vinkelmåleudstyrROC 727 med hul-aksediameter til 100 mm
Interferentielle vinkelmåleudstyr ROP 8080, for Waferprober, Kombination forspændte lejer og vinkelmåleudstyr, 360.000 Signalperioder/U
Miniature interferentielle vinkelmåleudstyr ERP 1080 i Single-Chip-Encoder-Udførsel
Inkremental fotoelektrisk drejegiver ROD 1 med 10.000 Streger
1981
Inkremental drejegiver ROD 426, Industristandarden
Absolut multiturn-drejegiver ROC 221 S, 12 Bit Singleturn, 9 Bit Multiturn
Inkremental indbygnings-drejegiver ERN 1300 for Arbejdstemperatur op til 120 °C
1993
Absolut Singleturn og Multiturn Dregiver ECN 1300 og EQN 1300
Miniature absolutte multiturn drejegiver EQN 1100 i Chip-On-Board teknik
Absolut singelturn-drejegiver ECN 100 med hul-aksediameter til 50 mm
Miniature Absolut Singleturn og Multiturn Dregiver ECI 1100 og EQI 1100 (med induktiv aftastning)
2007
Absolut drejegiver med “Functional Safety” SIL2/PL d og EnDat 2.2-Interface
1968
Frem-/og tilbagetæller VRZ 59.4 for 1 Akse
1974
Numerisk positionsvisning HEIDENHAIN 5041
1976
Numerisk positionsstyring TNC 110 og TNC 120 for 3 Akser
1979
Numerisk punkt-punkt styring TNC 131 / TNC 135
Numerisk banestyring for 3 Akser TNC 145
1984
Numerisk banestyring for 4 Akser TNC 155 grafisk simulering af emnebearbejdning
Synchron-serielle Interface EnDat for absolutte Positionsmåleudstyr
Banestyring TNC 426 med digitale akseregulering or 5 Akser
HEIDENHAIN kompakt TNC 410 MA med konverter og motorer
Banestyring iTNC 530 med alternativ betjeningsart smarT.NC
Banestyring TNC 620 med HSCI, den serielle Controller-Interface
Banestyring TNC 640 for kombinerede fræse-dreje-bearbejdning